SuperView W
3D-Weißlichtinterferometer für die hochauflösende optische Oberflächenprofilometrie.
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SuperView – optische 3D-Profilometrie für die Oberflächenanalyse im Nanometerbereich.
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3D-Weißlichtinterferometer für die hochauflösende optische Oberflächenprofilometrie.
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Kompakter Weißlichtinterferenz-Messkopf für den Einsatz als portabler Sensor oder zur Integration.
SuperView WX ansehenTypische Anwendungen
Halbleiter
Forschung
Beschichtungen
Optik
Verschleißanalyse
Entwicklung
5 Modelle in dieser Serie. Detaillierter Vergleich unten.
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1 Modell in dieser Serie. Detaillierter Vergleich unten.
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