3D-Oberflächenscanner

SuperView – optische 3D-Profilometrie für die Oberflächenanalyse im Nanometerbereich.

SuperView W. 3D-Weißlichtinterferometer für die hochauflösende optische Oberflächenprofilometrie.

ModellObjekttisch-GrößeVerfahrbereich XYTragfähigkeit

ModellStandard-SichtfeldWiederholbarkeit Rauheit RMSGenauigkeit Stufenmessung

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